X射線精細結構分析譜儀(XAFS)是一種用于研究物質局域幾何結構和電子結構的分析儀器，其核心原理是通過測量X射線吸收系數隨入射光子能量的變化，解析吸收原子周圍近鄰配位原子的種類、鍵長、配位數等結構信息。
 

　　X射線精細結構分析譜儀應用領域與典型案例：
 

　　催化材料研究
 

　　案例：天津大學王中利教授團隊利用XAFS表征CuOx/V2O5復合催化劑，發現Cu的價態介于0價與+2價之間，且單分散CuOx物種與V2O5載體存在強相互作用，成功將甲烷氧化為甲酸(法拉第效率92%)。
 

　　能源材料開發
 

　　案例：復旦大學團隊通過XAFS解析金屬酞菁(MPc)材料的[MN4]配位結構，發現NiPc在含溴電解液中可將乙烯氧化為2-溴乙醇，進而合成三乙醇胺，為CO2電催化還原為C6產物提供新路徑。
 

　　非晶態材料分析
 

　　案例：中國科學院上海應用物理研究所團隊利用XAFS研究熔鹽電刻蝕制備的二維MXene材料，發現Ti3C2Tx的Ti局域結構在刻蝕前后保持一致，但Ti被氧化，且–O官能團修飾的Ti3C2在1 M H2SO4溶液中表現出優異電化學性能。
 

　　環境污染物檢測
 

　　案例：東華理工大學團隊利用XAFS解析鈾-有機骨架結構，發現1,3,5-三甲酰基(H3TFP)可與鈾形成穩定平面配位結構，實現溶液中鈾的100%吸附，為核廢料處理提供新方法。