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國創科儀同步輻射x射線吸收譜儀的X射線吸收過程：當X射線能量達到原子內層電子(如K層、L層)結合能時，電子被激發至未占據態或電離，形成吸收邊(Absorption Edge)。

XAFS表征通過測量樣品對X射線的吸收系數隨入射光子能量的變化曲線，獲取關于中心吸收原子的局域電子結構、原子結構和化學環境的信息。該曲線在吸收邊高能側呈現振蕩現象，這些振蕩源于X射線激發的光電子波與鄰近原子散射波的干涉效應。

X射線精細結構分析譜儀(XAFS/XES)是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。XAFS/XES主要應用于催化劑 、合金、陶瓷、環境污染物、各類晶態和非晶態材料及生物樣品內金屬離子的價態、配位結構及電子狀態分析，以及材料局部結構在熱場、光場、電場和磁場變化下的局部結構動態演化過程研究等。

國創科儀快掃型X射線吸收譜儀 SuperXAFS V8000 是一種用于研究材料局部結構和電子狀態的非破壞性技術。

國創科儀廠家的通用型X射線吸收譜儀SuperXAFS H3000 通過探測原子近鄰環境和價態，在不破壞樣品的前提下實現元素特異性和局域結構分析，尤其適用于傳統表征手段（如 XRD、SEM）難以解決的微觀機制研究。其應用貫穿從基礎科學到工業實踐的多個領域，成為連接原子尺度結構與宏觀性能的關鍵工具。

國創科儀寬能譜X射線吸收譜儀適用性強，滿足全部常規樣品測試的同時，亦可滿足特殊樣品測試，如磷、鉀、錒系、有毒、有放射性樣品等。